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Toute l'électronique n° 469 - fiabilité des microcircuits électroniques par s. vigneau, la maintenance des appareils de mesure électronique par g. dangles, essais dynamiques de composants, appareils et systèmes électroniques par k. feser et m. lutz par Collectif

Société des éditions radio. Décembre 1981. In-4. Broché. Bon état, Couv. convenable, Dos satisfaisant, Intérieur frais. 103 pages. Nombreuses illustrations en noir et blanc dans et hors texte.. . . . Classification Dewey : 621.3-Electronique

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Sommaire : Fiabilité des microcircuits électroniques par S. Vigneau, La maintenance des appareils de mesure électronique par G. Dangles, Essais dynamiques de composants, appareils et systèmes électroniques par K. Feser et M. Lutz, Les essais non destructifs par M. Petri Classification Dewey : 621.3-Electronique